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专利名称：样品分析元件及检测装置专利类型：发明专利
发明人：尼子淳,杉本守,小池秀明申请号：CN201310018783.1申请日：20130118公开号：CN103217402A公开日：20130724
摘要：本发明提供一种样品分析元件及检测装置。以与入射光共振的间距，在一个方向排列包含大小小于入射光的波长且分散在介电体表面的金属纳米体的多个金属纳米体群。在邻接的金属纳米体群彼此之间，长条片在介电体表面上延伸。长条片由不具有与入射光共振振动的自由电子的材料形成。依靠入射光的作用，在金属纳米体中引起局域表面等离子体共振。依靠间距的作用引起传播表面等离子体共振。传播表面等离子体共振与局域表面等离子体共振结合。确立所谓的混合模式。长条片对确保间距起作用。
申请人：精工爱普生株式会社
地址：日本东京
国籍：JP
代理机构：北京康信知识产权代理有限责任公司
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